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日時

平成26年12月18日（水曜日） 10時00分から12時00分

場所

特許庁庁舎16階  特別会議室

出席者

相澤委員長、飯村委員、小原委員、古城委員、竹本委員、田沼委員、長澤委員、中條委員、中村委員

議題

• (1)評価項目及び評価基準（仮案）の修正について
• (2)仮評価に基づく審査品質管理の実施体制に関する改善案について

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• 事務局より特許・意匠・商標の審査品質管理に関する取組（資料1から資料3）及び米国特許商標庁・韓国特許庁の取組状況（資料4）について説明を行った。
• 資料5及び資料6に沿って、今回の議題について委員に討議いただき、評価項目及び評価基準の修正、審査品質管理の実施体制の改善について意見をいただいた。
• 各委員から今回いただいた意見をもとに、評価項目及び評価基準の修正を行い、次回の小委員会でさらに議論をいただく予定。

［更新日　2014年12月19日］

お問い合わせ

＜特許の審査品質に関すること＞ 特許庁審査第一部調整課品質管理室 電話：03-3581-1101（内線3121） FAX：03-3588-8131 ＜意匠の審査品質に関すること＞ 特許庁審査第一部意匠課 電話：03-3581-1101（内線2907） FAX：03-5570-1588 ＜商標の審査品質に関すること＞ 特許庁審査業務部商標課 電話：03-3581-1101（内線2805） FAX：03-3580-5907